Die Initiativen

TeSiMat - Bewertungs- und Testsystem zur Sicherung der Zuverlässigkeit von Materialverbunden der Mikro- und Nanoelektronik - Berlin

Das InnoProfile-Vorhaben

Die Zuverlässigkeitsforschung für Mikrosysteme und die Nanotechnologie am Fraunhofer-Institut IZM in Berlin hat international eine stark beachtete Stellung erreicht. Am Fraunhofer Micro Materials Center Berlin (MMCB) des IZM wird zurzeit mit Unterstützung der Industrie und des Landes ein Europäisches Exzellenzzentrum auf dem Gebiet der Zuverlässigkeit für Hightech-Anwendungen im Mikro- und Nanobereich aufgebaut (EUCEMAN - European Center for Micro- and Nanoreliability).

Die am Wissenschaftsstandort WISTA in Berlin-Adlershof im Aufbau befindliche Nachwuchsforschungsgruppe ist ein wichtiger Bestandteil der Forschungsarbeiten dieses Zentrums. Promovenden aus mehreren Ländern erarbeiten Lösungen für zuverlässige Produkte (z.B. Automobilelektronik, Automobilsensoren) unter Nutzung moderner Mikro- und Nanotechnologien. Unterstützt und gefördert werden die Mitglieder der Gruppe durch Industriefirmen wie Bosch, Infineon oder IBM, vor allem aber auch durch die Berliner KMUs.

Die Ziele

In enger Kooperation zwischen dem Fraunhofer-Institut IZM, der TU Berlin und regionalen Firmen wird ein Bewertungs- und Testsystem zur Sicherung der Zuverlässigkeit von Materialverbunden der Mikro- und Nanoelektronik entwickelt. Die regionalen KMUs werden so in die Lage versetzt, in der Wertschöpfungskette gemeinsam mit großen Firmen auf dem europäischen und internationalen Markt zu bestehen und ihr hervorragendes Know-how besser einzubringen . In Kooperation mit Fraunhofer wird so z.B. wichtige Grundlagenforschung für die Chipfabriken in Dresden durchgeführt, aber auch für große Automobil- und Elektronikfirmen weltweit.

Die thematischen Schwerpunkte

  • Bereitstellung einer Tool-Plattform zur schnellen Zuverlässigkeitsprognose
  • Designoptimierung für den Einsatz fortgeschrittener Technologien im Mikro-Nano-Übergangsbereich
  • Zuverlässigkeitsoptimierung von Produkten
  • Einsatz neuester Nanomesstechniken in Verbindung zur Nanosimulation

Es werden folgende Teilprojekte bearbeitet:

  • Bereitstellung handhabbarer Zuverlässigkeitsmethoden der Mikro- und Nanoelektronik für KMUs
  • Entwicklung geeigneter neuer Messtechniken in Verbindung mit den Zuverlässigkeitskonzepten

    • Bruch- und Rissvermeidungsstrategien in Mikro- und Nanokomponenten
    • kombinierte Einflüsse von mechanischen, thermischen und elektromagnetischen Einwirkungen sowie Schwingungen, Diffusion etc. auf die Zuverlässigkeit und Qualität der Produkte
    • Entwicklung von Testsystemen

Die Partner

  • AMIC GmbH
  • SENTECH Instruments GmbH
  • Berliner Nanotest und Design GmbH
  • First Sensor Technology GmbH
  • Spree Hybrid und Kommunikationstechnik GmbH
  • RÖNTEC AG
  • Swissbit Germany AG
  • Aucoteam GmbH
  • InnoMat GmbH
  • Siemens AG Berlin als Förderer des Projekts
  • Fraunhofer-Institut IZM Berlin, Micro Materials Center Berlin-Adlershof
  • TU Berlin, BeCAP

Kontakt

Prof. Dr. rer. nat. habil. Bernd Michel
Fraunhofer Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM)
Micro Materials Center
Volmerstraße 9B
12489 Berlin
Tel.: (030) 6392-83610
E-Mail: bernd.michel[at]izm.fraunhofer.de
www.izm.fraunhofer.de/abteilungen/ere/projekte/Tesimat/

Dr.-Ing. Olaf Wittler (Nachwuchsforschungsgruppenleiter)
Fraunhofer Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration (IZM)
Volmerstraße 9B
12489 Berlin
Tel.: (030) 6392-8164
Fax: (030) 6392-8166
E-Mail: olaf.wittler[at]izm.fraunhofer.de

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